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제   목 PCB Reliablity on CAF and Pseudo CAF
작성자 이진호
작성일 2020-06-12
첨부#1 PCB_Reliability_on_CAF_and_Pseudo_CAF.pdf (670KB) (Down:6)
ㆍ조회: 22  
Electro migration 에 의한 CAF 불량과 Drill Damage로 인해 발생한 Crazing 으로 인한
Leakage 혹은 Short 불량에 관한 자료입니다
2017 ECWC14 발표자료

이진호기술위원
010-7506-819, jhlee@keti.re.kr
PCB산업혁신센터(시화공단 한국산업기술대학 TIP 519호)
전자부품연구원